Модули EVO LEGGERA оснащены новейшими низкопрофильными теплораспределителями «Leggera» бирюзового цвета, изготовленными с применением технологии MTCD — Maximum Thermal Conduction & Dissipation для обеспечения оптимальной эффективности охлаждения в сочетании со стандартной высотой модулей, обеспечивающей совместимость с крупногабаритными СО других компонентов ПК.

Работая на частоте вплоть до 2800MHz, как и их аналоги в серии EVO, модули EVO LEGGERA разработаны для всех новейших наборов логики, включая платформу Intel Z77, чтобы обеспечивать максимальную совместимость и производительность. Вся серия получает гарантию качества GeIL благодаря применению стандарта DBT – Diehard Burn-in Technology.

EVO LEGGERA — новая вершина производительности с низкопрофильной системой охлаждения, воплощающая оптимальное сочетание эстетики и функциональности

Спецификации EVO LEGGERA:

Частота Тайминги Емкость Напряжение

1866MHz 9-10-9-28 8GB, 16GB, 32GB 1.5V

1866MHz 9-11-9-28 8GB, 16GB, 32GB 1.5V

1866MHz 10-10-10-32 8GB, 16GB, 32GB 1.5V

2133MHz 9-10-9-28 8GB, 16GB, 32GB 1.65V

2133MHz 9-11-9-28 8GB, 16GB, 32GB 1.65V

2133MHz 10-10-10-30 8GB, 16GB, 32GB 1.65V

2133MHz 10-11-11-30 8GB, 16GB, 32GB 1.65V

2400MHz 10-11-11-30 8GB, 16GB, 32GB 1.65V

2400MHz 11-11-11-30 8GB, 16GB, 32GB 1.65V

2400MHz 11-12-12-30 8GB, 16GB, 32GB 1.65V

2666MHz 11-13-13-32 8GB, 16GB, 32GB 1.65V

2800MHz 11-13-13-35 8GB, 16GB, 32GB 1.65V

Стресс-тестирование — процесс, часто применяемый в производстве электроники, направленный на повышение надежности производимого оборудования. Он заключается в эксплуатации продукта на повышенных частотах и напряжении, чтобы выявить возможность раннего выхода из строя и повысить общее качество продукта, что максимально соответствует ожиданиям пользователей.

В изготовлении оперативной памяти такое тестирование раньше применялось только в самых дорогих сегментах — при производстве серверных модулей, а также памяти, соответствующей военным спецификациям. Однако, с появлением GeIL Die-hard Burn-in Technology эта ситуация изменилась. Этот процесс протекает в камере собственной разработки GeIL — DBT-1. Она вмещает до 1000 модулей памяти благодаря применению специальных плат разработки GeIL, оснащенных интерфейсом для подключения памяти и контроллером. После установки модули памяти подвергаются динамическому тестированию с помощью специально разработанного программного обеспечения.

DBT-1 позволяет поднять температуру вплоть до 100*С, время тестирования составляет 24 часа. Die-hard Burn-in Technology от GeIL — прекрасный инструмент для производства оперативной памяти с большой гибкостью и богатыми возможностями. Он позволяет исключить возможность раннего выхода из строя и обеспечивает пользователей продуктами высочайшего качества.